HAST非飽和加速壽命試驗箱特點(diǎn)：

自動(dòng)門(mén)禁，圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制，安全門(mén)把設計，箱內有大于常壓時(shí)測試們會(huì )被反壓保護。

圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

實(shí)驗開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。

臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續200h。

箱內壓力愈大時(shí)，packing會(huì )有反壓會(huì )使其與箱體更緊密結合，與傳統擠壓式不同，可延長(cháng)packing壽命。

圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。

hast非飽和加速試驗箱適用測試標準：

JESD22-A102 無(wú)偏壓高壓蒸煮試驗 封裝IC（芯片）

JESD22-A110-E 高加速溫濕度應力試驗（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗

IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗-濕熱試驗 太陽(yáng)能光伏組件 減少試驗時(shí)間

在當今的高科技世界里，半導體器件的性能和可靠性對于各種電子設備的質(zhì)量和安全性至關(guān)重要。然而，這些器件可能會(huì )受到環(huán)境條件的影響，特別是濕度和溫度，從而可能導致故障或性能下降。為了確保半導體器件的可靠性和持久性，HAST加速抗濕滲透老化箱已成為一種重要的測試工具。

HAST加速抗濕滲透老化箱，也稱(chēng)為高壓加速壽命試驗（High-Altitude Simulation Test）設備，主要用于測試半導體封裝之濕氣能力。這種設備模擬了惡劣的環(huán)境條件，包括高溫、高壓和高度真空，以加速水分通過(guò)外部保護材料或密封劑或外部材料和導體之間的滲透。這種測試方法有助于評估和預測半導體器件在實(shí)際使用環(huán)境中的性能和可靠性。

HAST老化箱的運作原理主要是通過(guò)在設定的溫度和濕度條件下連續施加壓力來(lái)實(shí)現的。這種壓力模擬了外部環(huán)境條件，如高度和濕度，對半導體器件的影響。同時(shí)，這種設備還配備了各種傳感器和監控設備，以監測測試過(guò)程中的各種參數，如溫度、濕度和壓力。

HAST加速抗濕性滲透老化箱的設計和結構通常包括一個(gè)密封的測試腔體、加熱和冷卻系統、高壓泵以及控制系統。測試腔體提供了測試器件的理想環(huán)境，加熱和冷卻系統能夠精確控制測試溫度，高壓泵用于產(chǎn)生高壓環(huán)境，而控制系統則負責整個(gè)設備的操作和監控。

使用HAST老化箱進(jìn)行測試的過(guò)程通常包括以下幾個(gè)步驟：將被測器件放入測試腔中，設置測試參數，如溫度、濕度和壓力，然后啟動(dòng)設備開(kāi)始測試。在測試過(guò)程中，設備會(huì )持續監測各種參數，如濕度、溫度和壓力的變化，以及被測器件的性能表現。測試完成后，分析測試數據并得出結論。

HAST加速抗濕性滲透老化箱對于評估半導體器件的可靠性和耐久性具有重要作用。通過(guò)模擬惡劣的環(huán)境條件，這種設備能夠快速檢測出潛在的問(wèn)題和故障，從而確保了半導體器件在實(shí)際使用中的性能和安全性。此外，由于其采用的高壓加速方法，使得測試過(guò)程比傳統的老化測試更快，從而大大提高了測試效率。