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DX-pct-350PCT高壓加速試驗箱 高溫蒸煮試驗機
PCT高壓加速試驗箱 高溫蒸煮試驗機也稱(chēng)為高壓蒸煮試驗箱或飽和蒸汽試驗箱，是一種用于模擬環(huán)境條件下材料和產(chǎn)品性能的試驗設備。這種試驗箱主要用于測試半導體封裝、電子零件、線(xiàn)路板、磁性材料等在高溫、高壓和飽和濕度（100%R.H.）環(huán)境下的耐濕性能和可靠性。能夠提供嚴苛的溫度、濕度（100%R.H.）和壓力環(huán)境。常見(jiàn)的測試條件包括溫度范圍+105℃至+162.5℃，壓力范圍0.019至0.393
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更新日期
2024-02-23
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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437
溫濕度蒸汽壓力試驗PCT高壓蒸煮測試箱
溫濕度蒸汽壓力試驗PCT高壓蒸煮測試箱是一種用于模擬高溫高濕和高壓環(huán)境下的試驗設備，主要用于電子、電器、半導體等產(chǎn)品的可靠性評估。它可以通過(guò)施加高壓蒸氣和高溫高濕的環(huán)境條件來(lái)加速產(chǎn)品老化過(guò)程和失效機理的發(fā)展，從而評估產(chǎn)品的可靠性和耐久性。在試驗中，通常將被測樣品放置在試驗箱中，通過(guò)控制試驗箱內的溫度、濕度和氣壓等參數，模擬真實(shí)環(huán)境下的作用條件。試驗過(guò)程中會(huì )不斷進(jìn)行溫度循環(huán)、濕度循環(huán)和氣壓循環(huán)等
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更新日期
2023-10-13
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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420
固態(tài)元件抗濕性PCT老化試驗機
固態(tài)元件抗濕性PCT老化試驗機是一種專(zhuān)門(mén)用于評估固態(tài)元件在潮濕環(huán)境中的可靠性和抗濕性能的設備。該試驗機主要通過(guò)模擬高溫高濕條件下的PCT老化環(huán)境，加速固態(tài)元件的老化失效過(guò)程?？節裥訮CT老化試驗機通常具備精確的溫度、濕度和壓力控制系統，可以實(shí)時(shí)監測和調節試驗箱內的環(huán)境參數。同時(shí)，它還具有數據記錄和分析功能，可以記錄試驗過(guò)程中的各項參數，并生成相應的報告和曲線(xiàn)圖，用于評估固態(tài)元件的抗濕性能
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更新日期
2023-10-13
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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芯片鈍化層PCT溫濕度偏壓壽命試驗箱
芯片鈍化層PCT溫濕度偏壓壽命試驗箱是一種用于進(jìn)行PCT（壓力鍋測試）溫濕度偏壓壽命測試的設備。它主要用于電子、電氣、半導體等產(chǎn)品的可靠性評估，特別是在惡劣環(huán)境下模擬產(chǎn)品的使用壽命。該試驗箱通過(guò)在高溫高濕的環(huán)境中施加高氣壓和偏壓，模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的壓力和溫濕度變化。通過(guò)持續進(jìn)行溫度循環(huán)、濕度循環(huán)和偏壓循環(huán)等測試，可以加速產(chǎn)品老化過(guò)程和失效機理
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更新日期
2023-10-13
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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塑封料芯片PCT加速抗濕性滲透試驗機
塑封料芯片PCT加速抗濕性滲透試驗機是一種專(zhuān)門(mén)用于進(jìn)行塑封芯片PCT（Pressure Cooker Test，壓力鍋測試）加速老化、抗濕性和滲透測試的設備。該設備可以在高溫高壓的環(huán)境下模擬產(chǎn)品在潮濕環(huán)境中的使用情況，從而驗證芯片封裝材料的可靠性。在測試過(guò)程中，芯片封裝材料樣品通常被放置在試驗箱內，在高溫高壓下進(jìn)行加速老化和濕敏失效測試。試驗箱內的高溫高壓環(huán)境能夠促進(jìn)樣品中的水分分子向外擴散
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更新日期
2023-10-13
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