HAST非飽和加速壽命試驗箱特點(diǎn)：

自動(dòng)門(mén)禁，圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制，安全門(mén)把設計，箱內有大于常壓時(shí)測試們會(huì )被反壓保護。

圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

實(shí)驗開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。

臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續200h。

箱內壓力愈大時(shí)，packing會(huì )有反壓會(huì )使其與箱體更緊密結合，與傳統擠壓式不同，可延長(cháng)packing壽命。

圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。

hast非飽和加速試驗箱適用測試標準：

JESD22-A102 無(wú)偏壓高壓蒸煮試驗 封裝IC（芯片）

JESD22-A110-E 高加速溫濕度應力試驗（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗

IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗-濕熱試驗 太陽(yáng)能光伏組件 減少試驗時(shí)間

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技術(shù)，主要應用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過(guò)這種測試方法，可以在短時(shí)間內檢驗芯片的可靠性和壽命，從而避免在產(chǎn)品投放市場(chǎng)后出現潛在問(wèn)題。

HAST穩態(tài)濕熱壽命老化箱的工作原理是將待測芯片置于高溫高濕的環(huán)境中，以一定的時(shí)間間隔進(jìn)行加熱和加濕，模擬長(cháng)時(shí)間使用后的可能問(wèn)題。通過(guò)這種模擬環(huán)境的測試方法，可以快速發(fā)現芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節，從而提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性。

在具體操作中，HAST濕熱壽命老化箱的時(shí)間范圍可調，可以在0小時(shí)至999小時(shí)內進(jìn)行測試。這種靈活性使得測試人員可以根據具體需求和產(chǎn)品特性設置合適的測試時(shí)間，從而更好地評估產(chǎn)品的性能和可靠性。

HAST穩態(tài)壽命老化箱的濕度分布均度控制在±3%RH，確保每個(gè)測試樣本都能得到一致的測試條件。這種均度控制對于準確評估產(chǎn)品的性能和可靠性至關(guān)重要。

HAST穩態(tài)濕熱老化箱作為一種主流的加速老化測試技術(shù)，為提升產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性提供了有效的手段。通過(guò)模擬環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境，可以在短時(shí)間內快速發(fā)現芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節，從而及早采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。此外，HAST穩態(tài)壽命老化箱的靈活性和均度控制使得測試人員可以根據具體需求對產(chǎn)品進(jìn)行全面評估，確保產(chǎn)品的性能和可靠性達到預期水平。

需要注意的是，雖然HAST穩態(tài)濕熱壽命老化箱可以模擬環(huán)境，但并不能代表實(shí)際使用的所有情況。因此，在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中，除了使用HAST濕熱壽命老化箱進(jìn)行加速老化測試外，還應結合實(shí)際情況和其他測試方法，對產(chǎn)品進(jìn)行多角度、的評估，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性達到水平。

在未來(lái)的電子產(chǎn)品設計中，質(zhì)量和可靠性將成為越來(lái)越重要的考量因素。而HAST穩態(tài)壽命老化箱作為一種主流的加速老化測試技術(shù)，將在提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性方面發(fā)揮更加重要的作用。