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產(chǎn)品展示/ PRODUCTS PLAY

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半導體冷熱沖擊箱

描述:半導體冷熱沖擊箱技術(shù)先進(jìn):采用先進(jìn)的制冷和加熱技術(shù),實(shí)現快速的溫度變化。應用廣泛:除了工業(yè)應用,也適用于科研和醫療等領(lǐng)域的測試。電源線(xiàn)要求:應使用合適規格的電源線(xiàn),并確保電源線(xiàn)沒(méi)有損壞,以承載設備的電力需求。獨立供電:為了避免其他設備干擾,高低溫沖擊箱最好有獨立的供電線(xiàn)路。

  • 產(chǎn)品型號:DR-H203-50G
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-05-08
  • 訪(fǎng)問(wèn)量:185
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION
品牌德祥儀器價(jià)格區間5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車(chē),電氣

半導體冷熱沖擊箱

 

 

半導體冷熱沖擊箱半導體冷熱沖擊箱半導體冷熱沖擊箱

半導體冷熱沖擊箱滿(mǎn)足標準:

1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗A:低溫試驗方法;
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗B:高溫試驗方法;
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗Ca:恒定交變濕熱試驗方法。
4.GB2423.2-2006(IEC68-2-2)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程試驗B:高溫試驗方法
5.GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
6.GB/T2423.4-93(IEC68-2-30)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程試驗Da:交變濕熱試驗方法
7.GJB150.3(ML-STD-810D)高溫試驗方法
8.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

高低溫冷熱沖擊箱結構   

1、試驗箱結構形式:試驗箱采用整體式組合結構形式,既試驗箱由位于上部的高溫試驗箱,位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機組柜和位于左側后板上的電器控制柜(系統)所組成。此方式箱體占地面積小、結構緊湊、外形美觀(guān),制冷機組置于獨立的機組箱體內,以減少制冷機組運行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對試驗箱的影響,同時(shí)便于機組的安裝和維修,電器控制面板置于試驗箱的左側板上以便于運行操作。   

2、箱體外壁材料:優(yōu)質(zhì)碳素鋼板,表面作靜電彩色噴塑處理。   

3、箱體內壁材料:進(jìn)口SUS304不銹鋼板,耐腐蝕、易清洗、美觀(guān)大方。   

4、保溫材料:優(yōu)質(zhì)超細玻璃纖維棉。   

5、樣品架:上下移動(dòng)滑軌導的不銹鋼樣品架。采用雙作用力汽缸提供平穩均勻的動(dòng)力,樣品架的定位裝置采用德國FESTO公司產(chǎn)間接式電傳感器。   

6、觀(guān)察窗:在上箱體(高溫箱)大門(mén)上開(kāi)一個(gè)350×250mm電熱鍍膜防潮隔溫觀(guān)察窗。   

7、電纜穿線(xiàn)孔:在樣品架的上部與高溫試驗箱體頂部設置有滑動(dòng)式電纜穿線(xiàn)管。   

8、樣品架承重:≥50Kg.   

9、試驗室照明裝置:防潮燈。

高低溫冷熱沖擊箱電源要求:

冷熱沖擊箱作為一種精密的工業(yè)測試設備,對電源有著(zhù)特定的要求,以確保設備的正常運行和測試的準確性。以下是根據搜索結果得出的電源要求:

電壓穩定性:高低溫沖擊箱通常要求穩定的電壓供電,以避免電壓波動(dòng)對設備性能的影響。供電電壓一般為220V±22V或380V±38V。

頻率要求:設備的電源頻率應穩定在50Hz±0.5Hz,以保證設備內部控制系統和電機的穩定運行。

接地保護:為確保使用安全,高低溫沖擊箱的電源接線(xiàn)端子應有良好的接地措施,以防止電氣故障和觸電事故。

電源線(xiàn)要求:應使用合適規格的電源線(xiàn),并確保電源線(xiàn)沒(méi)有損壞,以承載設備的電力需求。

獨立供電:為了避免其他設備干擾,高低溫沖擊箱最好有獨立的供電線(xiàn)路。

過(guò)載保護:電源系統中應有過(guò)載保護裝置,如熔斷器或過(guò)載保護開(kāi)關(guān),以防設備過(guò)載運行。

斷電保護:建議配備斷電保護或不間斷電源(UPS),以防止突發(fā)斷電對測試造成影響。

電源相數:根據設備的功率和設計,可能需要單相或三相電源供電。

電源插座:應使用符合當地電氣標準的電源插座,并確保插座能夠安全地承載設備的最大功率。

環(huán)境要求:試驗箱周?chē)沫h(huán)境應無(wú)強烈振動(dòng)、沖擊,無(wú)陽(yáng)光直接照射或其他冷、熱源影響,且無(wú)強電磁場(chǎng)。

確保滿(mǎn)足上述電源要求對于高低溫沖擊箱的正常運行和測試結果的準確性至關(guān)重要。在設備安裝和使用前,應仔細閱讀制造商提供的技術(shù)文件和操作手冊,以了解所有特定的電源要求和安全指南。

 半導體冷熱沖擊箱注意事項:

1. 易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗及儲存

2. 腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗及儲存

3. 生物試樣的試驗或儲存

4. 強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存

5. 放射性物質(zhì)試樣的試驗及儲存

6. 劇 DU物質(zhì)試樣的試驗及儲存

7. 試驗或儲存過(guò)程中可能產(chǎn)生劇DU物質(zhì)的試樣的試驗及儲存


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